Nanometre Slice系列切片尺寸测量仪

一、 产品简介：

            OMS-NS 微纳尺寸测量仪将显微成像与传统影像测量相结合，实现了微小特征的大范围测量。配置电动变倍镜头，可自动切换到不同的倍率，探测各种精密微观二维尺寸特征。尺寸测量功能丰富，可进行各种二维尺寸点、线、圆等的测量和形位公差的评价。

OMS-NS  微纳尺寸测量仪可用于印制电路板微切片、精密机械零件、晶圆刻蚀微结构、光通讯器件、精密模具、磁性材料、精密冲压、手机精密配件、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。

二、 产品优势

》放置产品后，只需按一键即可完成各种测量

》最大支持300*200mm视野量程

》移动测量 大小视野切换大视野快速测量，小视野高精度测量，最高1um测量精度

》双远心镜头搭配两个2000万像素相机和自动升降多角度表面光及精心定制的表面同轴光搭配自主

》强大AI边缘计算算法轻松实现表面精确寻边，边界杂点过滤无效区域实现表面尺寸高精度测量，

》表面光的测量重复性也可达到底光一样的水准